日置 HIOKI C测试仪 3504-60

日置 HIOKI C测试仪 3504-60 封装机、分选机、电容器的合格与否的判断和等级分类等 高速测量2ms 能根据C 和D （损耗系数*2）的测量值，进行被测物合格与否的判断 对应测试线，比较器功能/触发输出功能 3504-60/-50用BIN的分选接口进行被测物体的测试 3504-40记录工具，实现高速/低成本的测试 查出全机测量中的接触错误，提高成品率