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顶日置 HIOKI LCR测试仪IM3536
日置 HIOKI LCR测试仪IM3536 DC，4Hz~8MHz测量频率 测量频率DC，4Hz~8MHz 测量时间：最快1ms 基本精度：±0.05% rdg 1mΩ以上的精度保证范围，也可安心进行低阻测量 可内部发生DC偏压测量 从研发到生产线活跃在各种领域中
日置 HIOKI LCR -
泰克 Tektronix Keithley 2001 系列：配有扫描功能的 7½ 位万用表
泰克 Tektronix Keithley 2001 系列：配有扫描功能的 7½ 位万用表 2001 系列具有 7 ½ 位分辨率和 0.0018% 的基本 DCV 精度，提供卓越的分辨率、精度和灵敏度。
泰克 Tektronix Keithley -
泰克 Tektronix DMM7510 数字万用表
泰克 Tektronix DMM7510 数字万用表 DMM7510 集高精度、高分辨率数字万用表 (DMM)、图形触摸屏显示器和高速、高分辨率数字化器于一身，是第一款图形采样万用表。 其具有 pA 灵敏度和 1M 个样点/秒的采样率，能准确测量超低睡眠模式电流和传输无线设备的漏电流。
数字万用表 泰克 Tektronix DMM7510 -
日置 HIOKI AC/DC电流传感器CT6872，CT6872-01
日置 HIOKI AC/DC电流传感器CT6872，CT6872-01 50A额定的低电流型号，兼顾宽频带与高精度 超高精度(振幅)：[DC]±0.032 %、[50 Hz/60 Hz]±0.037 %、超高精度(相位)：[50 Hz/60 Hz]±0.05°
日置 HIOKI 电流传感器 -
日置 HIOKI 兆欧表 IR4057-50
日置 HIOKI 兆欧表 IR4057-50 快速响应比较器，保证在高速数字模式下稳定读数 日置绝缘电阻表/兆欧表采用一体化设计。IR4057-50是一款有5档量程，测试电压 50V/100MΩ~1000V/4000MΩ的兆欧表，功能强大、响应速度快，有助于缩短现场工作时间。
日置 HIOKI 兆欧表 -
日置 HIOKI 接地电阻计FT6031-50
日置 HIOKI 接地电阻计FT6031-50 适用于现场使用，防尘、防水性能和牢固性，即便脏了水洗即可的国际防护安全级别IP67 无线通讯！可将测量值传输至智能手机或平板设备（需搭载选件无线适配器Z3210） 测量值通过无线方式，直接传输到Excel®表单中（需搭载选件无线适配器Z3210） 卓越的抗干扰性 尘埃无法进入，不会浸水的国际防护安全级别IP67 1台仪器可进行A种到D种接地电阻测
日置 HIOKI 接地电阻 -
日置 HIOKI AC钳形表CM4141-50
日置 HIOKI AC钳形表CM4141-50 优秀的易夹性，轻松进入线缆狭窄处测量的钳形表 横截面最小11mm的超薄钳口，能轻松进入线缆狭窄处的设计 交流专用，最高可测2000A 除了交流电压，还具备电阻等各种测量功能 支持无线！可将测量值传输至智能手机或平板设备中（安装无线适配器Z3210时） 测量数据直接传输至使用Excel®制作的表格中（安装无线适配器Z3210时） 通过软件GENNE
日置 HIOKI 钳形表 -
日置 HIOKI 数字万用表DT4215
日置 HIOKI 数字万用表DT4215 轻松拥有高性价比真有效值万用表 在工作中，您需要一款耐用且精准的数字万用表。HIOKI DT4215可以满足您的需求。 便携的设计可以轻松应对复杂多变的环境，是每个工程师值得信赖的工具。 真有效值的测量 CATⅢ 600V 安全设计指标 电压、电阻、电流、电容、二极管测试 数据保持，相对显示 质保3年，防尘防水防摔
日置 HIOKI 数字万用表 -
日置 HIOKI 泄漏电流测试仪ST5541
日置 HIOKI 泄漏电流测试仪ST5541 电气安全中需要的泄漏电流测量（用于一般电子设备） ST5540可用于一般电子设备 具备不断电极性切换功能，大幅缩短接触时间 额定电流最大20A，适合新标准的产品 对话框形式，操作简单的触摸屏 带通信功能和外部I/O，可用于生产线的自动检查
日置 HIOKI 泄漏电流 -
日置 HIOKI 镊形探头L2001
日置 HIOKI 镊形探头L2001 镊型探头L2001是在本公司的LCR测试仪，阻抗分析仪，C测试仪的测量端口上连接使用的针形夹探头。 最适用于芯片零部件的测量。
日置 HIOKI 镊形探头L2001 -
日置 HIOKI C测试仪 3504-60
日置 HIOKI C测试仪 3504-60 封装机、分选机、电容器的合格与否的判断和等级分类等 高速测量2ms 能根据C 和D （损耗系数*2）的测量值，进行被测物合格与否的判断 对应测试线，比较器功能/触发输出功能 3504-60/-50用BIN的分选接口进行被测物体的测试 3504-40记录工具，实现高速/低成本的测试 查出全机测量中的接触错误，提高成品率
日置 HIOKI C测试仪 -
日置 HIOKI LCR测试仪 IM3523
日置 HIOKI LCR测试仪 IM3523 应用于生产线和自动化测试领域的理想选择 基本精度±0.05％，测量范围广(DC,40Hz～200kHz，5mV～5V，10μA～50mA) 在比如C-D和ESR这样的混合测量条件下，可以以往产品10倍的速度不间断测试。 内置比较器和BIN功能 2ms的快速测试时间
日置 HIOKI LCR -
SKG IR test tweezers
SKG IR test tweezers are purpose designed for testing IR and Flash on chips in the size range 01005 up to more than an inch long (metric 0402 up to 2.5cm plus) .
SKG tweezers
182-6037-8639 
电话：182-6037-8639
